3D localization of spinel (MgAl2O4) and sodium contamination in alumina by TOF-SIMS

MATERIALS CHARACTERIZATION

HOLEŇÁK, R.; SPUSTA, T.; POTOČEK, M.; SALAMON, D.; ŠIKOLA, T.; BÁBOR, P., 2019: 3D localization of spinel (MgAl2O4) and sodium contamination in alumina by TOF-SIMS. MATERIALS CHARACTERIZATION 148, p. 252 - 7, doi: 10.1016/j.matchar.2018.12.019; FULL TEXT
(SIMS, VERIOS)

Vybavení:

Secondary Ion Mass Spectroscopy ION-TOF TOF.SIMS5
High resolution Scanning Electron Microscope FEI Verios 460L

Výzkumné skupiny:

Pokročilé keramické materiály
CF: CEITEC Nano
Příprava a charakterizace nanostruktur
Pokročilá multifunkční keramika

CEITEC autoři:

Ing. Tomáš Spusta, Ph.D.
Ing. Michal Potoček, Ph.D.
doc. Ing. David Salamon, Ph.D.
prof. RNDr. Tomáš Šikola, CSc.
Ing. Petr Bábor, Ph.D.