Sdílet
Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů.
BÁBOR, P.; MAŠEK, K., 2011: Metody povrchové a tenkovrstvové analýzy prvkového složení (XPS, AES, SIMS), dirfrakce elektronů.. , p. 251 - 7; FULL TEXT
CEITEC autoři: