Sdílet
O tématu:
Znáte experiment Ernesta Rutherforda, kdy pomocí ostřelování zlaté fólie alfa částicemi s vysokou energií dokázal, že se atom skládá z hmotného jádra a okolního elektronového obalu? Ať již ano či ne, máte možnost na jeho práci navázat a vyzkoušet si analýzu vzorku pomocí svazku iontů. Charakterizace povrchu materiálu, jeho složení a čistota jsou v dnešní době zásadní například pro nanotechnologické aplikace. Jednou z možností, jak získat potřebné informace, je právě metoda rozptylu iontů, tentokrát s nízkou energií. Metoda LEIS (Low Energy Ion Scattering) mezi ostatními vyniká svou povrchovou citlivostí. Měřit totiž můžeme monoatomární vrstvu na úplném povrchu vzorku.
Vaším cílem by bylo provést přípravu vzorku a jeho analýzu včetně vyhodnocení spekter a interpretace dat. Zaměřili byste se na selenid bismutitý, topologický izolátor se specifickými vodivostními vlastnostmi. V praxi zjistíte, co znamená extrémní povrchová citlivost na vzorku, který byl vystaven atmosférickému prostředí. Pro vlastní analýzu pak budete vzorek chystat přímo ve vakuovém systému přístroje tak, aby nedošlo k jeho kontaminaci. Měření provedete s využitím několika různých energií primárního svazku a vyhodnotíte naměřená spektra. Nedílnou součástí bude také seznámení s čistými prostory laboratoří CEITEC.
Kapacita:
- 2 studenti
Vedoucí tématu:
