Sdílet
O TÉMATU
Popis:
Mikroskopie Atomárních Sil (AFM - Atomic Force Microscopy) je jednou ze dvou technik, kterou je v dnešní době možné přímo zobrazit atomy a molekuly. Takový mikroskop využívá velmi ostrý hrot, mnohem ostřejší než jehla. Hrot má špičku tlustou klidně i jen jednotky nanometrů, která se vlastně skládá jen z pár desítek atomů. Tímto ostrým hrotem se můžeme jemně dotýkat povrchu a dívat se, jak vypadá, nebo také měřit třeba elektrické a magnetické vlastnosti.
Rastrovací elektronová mikroskopie (SEM - Scanning Electron Microscopy) je už známá skoro sto let a je široce využívaná ve všech možných odvětvích vědy i průmyslu - od studia pevnosti materiálů přes výrobu počítačových čipů po zobrazování buněk nebo virů. Většinou si představujeme, že mikroskop je určen pouze k zobrazování malých věcí? U elektronového mikroskopu to však zdaleka není pravda. Pokud použijeme vhodné doplňky, můžeme díky nim v nanosvětě i "stavět" nebo "bourat". Je možné například vytvořit drobné elektrické obvody, nebo třeba vyříznout miniaturní kousek mikročipu abychom zkontrolovali kvalitu jednoho konkrétního transistoru.
V tomto projektu sice nebudeme zobrazovat atomy, vyzkoušíme si však přímo spojit elektronovou a AFM mikroskopii. Máme k dispozici speciální AFM mikroskop, který lze vložit dovnitř komory Skenovacího Elektronového Mikroskopu a vzorky zobrazovat současně – koukat se elektrony a dotýkat se AFM hrotem. Pomocí doplňkových technik elektronového mikroskopu si vytvoříme vlastní nanostruktury, které si hned v přímém přenosu změříme AFM hrotem. Vyzkoušíme si také konkrétní praktickou aplikaci – vytvořit mikroskopické kontakty. Na závěr změříme jejich kvalitu – vodivost.
A ještě jedna zajímavost – oba mikroskopy, na kterých budeme pracovat, se vyrábí v Brně.
Lektor:
Fotogalerie
