AFM/Raman Bruker Icon/Renishaw inVia (Raman/AFM Icon)

Popis:

Raman can be used to characterise and
image:
– Strain/stress
– Dopant concentrations
– Thin film thickness
– Crystal structure type and
orientation
– Crystal quality
– Sample temperature
– Chemical composition

Specification:

Všechny příručky, školicí dokumenty, prezentace z workshopů, software a další soubory najdete na Síťovém úložišti souborů , přístupném po registraci na serveru Perun .

Documents:

Manuály a přístrojovou dokumentaci si stáhněte ZDE (soubor zip, externí úložiště).