Cross section/broad beam ion polisher Leica EM TIC3X (TIC3X)

Cross section/broad beam ion polisher Leica EM TIC3X
CONTACT US

Guarantor: Ing. Ondřej Man, Ph.D.
Instrument status: Operational Operational, 19.10.2023 10:57
Equipment placement: CEITEC Nano - A1.08
Výzkumná skupina: CF: CEITEC Nano


Popis:

Přístroj pro iontové leštění vzorků pro rastrovací elektronovou mikroskopii svazkem lehkých iontů, umožňující vytvářet precizní příčné řezy křehkými, heterogenními, porézními a teplotně citlivými materiály pro jejich studium rastrovací elektronovou mikroskopií a analytickými metodami EBSD, EDS a WDS. Dále přístroj umožňuje iontové leštění velkých ploch při šikmém dopadu iontového svazku pro studium výše uvedených materiálů zmíněnými metodami.


Publications:

  • SUCHÝ, J.; KLAKURKOVÁ, L.; MAN, O.; REMEŠOVÁ, M.; HORYNOVÁ, M.; PALOUŠEK, D.; KOUTNÝ, D.; KRIŠTOFOVÁ, P.; VOJTĚCH, D.; ČELKO, L., 2021: Corrosion behaviour of WE43 magnesium alloy printed using selective laser melting in simulation body fluid solution. JOURNAL OF MANUFACTURING PROCESSES 69, p. 556 - 11, doi: 10.1016/j.jmapro.2021.08.006; FULL TEXT
    (VERIOS, TIC3X, RIGAKU3)
  • ŠŤASTNÝ, P.; VACEK, P.; TRUNEC, M., 2020: Characterization of microstructure and phase distribution of sintered multiphasic calcium phosphate bioceramics. CERAMICS INTERNATIONAL 46(4), p. 5500 - 5, doi: 10.1016/j.ceramint.2019.10.300; FULL TEXT
    (TIC3X, VERIOS, TITAN, HELIOS, RIGAKU3)