Našim partnerům nabízíme následující expertízu:
- Chemická analýza povrchů materiálů: rentgenová fotoelektronová spektroskopie (XPS): analýza chemického složení materiálů včetně poměrného zastoupení vazeb jednotlivých prvků; spektroskopie Augerových elektronů (AES): chemické složení povrchových vrstev s rozlišením <10 nm; hmotnostní spektroskopie sekundárních iontů (SIMS): prvková analýza s citlivostí v řádu ppb a 3D mapování chemického složení; rozptyl pomalých iontů (LEIS): prvkové složení svrchní atomární vrstvy.
- Monitorování povrchových procesů ve vakuu: mikroskopie pomalými elektrony (LEEM): zobrazování a difrakce v průběhu depozice, žíhání či expozice plynem.
- Depozice anorganických a organických materiálů ve vakuu.
- Depozice grafenu pomocí CVD a jeho integrace do FET tranzistorů (litografie, kontaktování, měření transportních vlastností).
